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北京半导体导电型号鉴别仪

产品简介

北京半导体导电型号鉴别仪 测量范围:硅单晶材料电阻率10-4~103Ω•cm

温差法:10-4~10Ω•cm

整流法:10~103Ω•cm,并对<0.1Ω•cm的材料具有声光报警功能。

2. 可测量材料:半导体硅棒和硅片,及硅碎颗粒。

可测半导体材料尺寸:Φ15~Φ150 mm以上。

产品型号:SN/STZ-8
更新时间:2024-10-18
厂商性质:生产厂家
访问量:728
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产地类别国产

半导体导电型号鉴别仪 硅单晶材料PN测量仪

型号:SN/STZ-8

北京半导体导电型号鉴别仪主要技术指标:

1. 测量范围:硅单晶材料电阻率10-4~103Ω?cm

温差法:10-4~10Ω?cm

整流法:10~103Ω?cm,并对<0.1Ω?cm的材料具有声光报警功能。

2.
北京半导体导电型号鉴别仪可测量材料:半导体硅棒和硅片,及硅碎颗粒。

可测半导体材料尺寸:Φ15~Φ150 mm以上。

3. 显示方式:P、N 灯显示。

4.
测试探头:手持式 探针间距3 mm 探针Φ1mm 高速钢

5. 电源:220V 50HZ 20W

6. 仪器尺寸:100×260×260
主要技术指标:

1. 测量范围:硅单晶材料电阻率10-4~103Ω?cm

温差法:10-4~10Ω?cm

整流法:10~103Ω?cm,并对<0.1Ω?cm的材料具有声光报警功能。

2. 可测量材料:半导体硅棒和硅片,及硅碎颗粒。

可测半导体材料尺寸:Φ15~Φ150 mm以上。

3. 显示方式:P、N 灯显示。

4. 测试探头:手持式 探针间距3 mm 探针Φ1mm 高速钢

5. 电源:220V 50HZ 20W

6. 仪器尺寸:100×260×260主要技术指标:

1. 测量范围:硅单晶材料电阻率10-4~103Ω?cm

温差法:10-4~10Ω?cm

整流法:10~103Ω?cm,并对<0.1Ω?cm的材料具有声光报警功能。

2. 可测量材料:半导体硅棒和硅片,及硅碎颗粒。

可测半导体材料尺寸:Φ15~Φ150 mm以上。

3. 显示方式:P、N 灯显示。

4. 测试探头:手持式 探针间距3 mm 探针Φ1mm 高速钢

5. 电源:220V 50HZ 20W

6. 仪器尺寸:100×260×260主要技术指标:

1. 测量范围:硅单晶材料电阻率10-4~103Ω?cm

温差法:10-4~10Ω?cm

整流法:10~103Ω?cm,并对<0.1Ω?cm的材料具有声光报警功能。

2. 可测量材料:半导体硅棒和硅片,及硅碎颗粒。

可测半导体材料尺寸:Φ15~Φ150 mm以上。

3. 显示方式:P、N 灯显示。

4. 测试探头:手持式 探针间距3 mm 探针Φ1mm 高速钢

5. 电源:220V 50HZ 20W

6. 仪器尺寸:100×260×260主要技术指标:

1. 测量范围:硅单晶材料电阻率10-4~103Ω?cm

温差法:10-4~10Ω?cm

整流法:10~103Ω?cm,并对<0.1Ω?cm的材料具有声光报警功能。

2. 可测量材料:半导体硅棒和硅片,及硅碎颗粒。

可测半导体材料尺寸:Φ15~Φ150 mm以上。

3. 显示方式:P、N 灯显示。

4. 测试探头:手持式 探针间距3 mm 探针Φ1mm 高速钢

5. 电源:220V 50HZ 20W

6. 仪器尺寸:100×260×260

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