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北京静态容量法比表面及孔径分布测定仪

产品简介

北京静态容量法比表面及孔径分布测定仪原 理: 氮吸附、多层吸附理论、毛细凝聚理论
方 法: 静态容量法
功 能: BET比表面(包括相关常数及系数)测定
     Langmuir比表面测定
    等温吸、脱附曲线测定。

产品型号:GH/JW-BK
更新时间:2024-10-28
厂商性质:生产厂家
访问量:495
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产地类别国产

静态容量法比表面及孔径分布测定仪

型号:GH/JW-BK

北京静态容量法比表面及孔径分布测定仪技术参数:

     

     原    理:  氮吸附、多层吸附理论、毛细凝聚理论

     方    法:  静态容量法

     功    能:  BET比表面(包括相关常数及系数)测定

              Langmuir比表面测定

              等温吸、脱附曲线测定

              从吸附曲线测定BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径

              从脱附曲线测定BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径

 北京静态容量法比表面及孔径分布测定仪    气    体:  高纯氮气

     氮 分 压:  0.01~0.995,***小可分辨相对压力(P/P0) :  5×10-4

     极限真空度:6.8×10-2Pa 

     压力精度:  0.25%

     样品数量:  1个测试样品 

                 2个内置脱气站可同时进行样品预处理(温度可单独设定)

                        样品数量及检测站数量可根据用户要求扩展

     测试范围:  比表面 ≥ 0.01M2/g , 无规定上限, 孔径0.7~400m

     测试精度:  ≤±2%

     测试效率:  BET比表面每个样品15分钟,从吸附等温曲线测定BET比表面及BJH孔径分布 ~100分钟,从吸、脱附曲线测定BET比表面及BJH孔径分布 ~3.5小时

     运行方式:  在输入试验条件后,计算机控制全自动运行

     脱气系统:  同机设有两个样品的预处理工位,每个样品可以单独设定预处理温度和处理时间,温度可控范围  50 ~ 400 °C  ± 1 °C,测试样品也可于原位进行预处理并接下去进行测试

     软    件:  在Windows平台上提供自动控制和数据处理/报告系统,软件功能强

            大,界面友好 ,操作方便,指导用户进行分析设置、预置参数、操作

            设置、数据处理、图形和报告输出等,在操作期间可以查看被测点以前

            的累积数据、相关的图形和分析,测试结束后通过快捷预览窗口直接看

            到全部结果

     外形尺寸:  50×35×70

     主机重量:  34Kg

 

产品特点:

     

     1.自主知识产权,功能与性能达到同类水平,在比表面及介孔测定范围,可以代替进口;

     2.自动化程度很高,可以做到长时间无人值守;

     3.可靠的无泄漏(10-9cc/sec)无污染的真空系统;

     4.稳定性的高灵敏压力传感器 ( 精度: 0.25% );

     5.*的相对压力-平衡时间的自由设置及全自动控制及平衡技术;

     6.*的真空及气路设计,采用了*的内置式微型调节系统;

     7.*的仪器有效体积及非均匀温度场的校定方法;

     8.软件功能齐全,界面友好,使用方便;

     9.可以单从吸附曲线得出BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径,测试时间可以节省一半;

     10. 只用氮气,不用氦气,而且氮气的消耗量很低,大大降低了测试成本;

     11. 高质量的液氮杜瓦瓶及巧妙的密封装置,大大降低了液氮的消耗;

     12. 实时显示的压力变化曲线,方便操作者了解样品的吸/脱附进程,以及系统的工作状态; 

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