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型号:SN/SZT-5
硅材料复合测试仪,是由二种硅材料测试仪器组合而成的
1,二量程的电阻测量仪器,配以手持式四针测试头或座式测试架,可用来测量片状,柱状,或块状,电阻率在0.01~200欧姆/厘范围内的半导体材料。通过对恒流源的调整,可以对某些测量结果进行修整,例如对普通硅材料的测试结果要乘以0.628的探险头修正系数,对硅材料薄层扩散和导电薄膜 “方块电阻“ 的修正系数为4.53等均可通过调正恒流电流加以处理。
ST512-SZT-5数字式四探针测试仪,体形小巧,操作方便,量程适中,十分适於对重炼回料的分选。
2,整流法硅材料P-N极性判别仪,配有三针手持式探头,能对片状或块状电阻率在1000-0.01欧姆/厘米的。硅材料进行极性判别
本仪器工作环境条件为:
温 度:18℃―25℃
相对湿度:50%-70%
工作室内应无强电场干扰,不与高频设备共用电源。
二,技术参数
1,测量范围
(1)电阻率测量:
电 阻 率 0.01-200Ω-cm
方块电阻 0.01-200Ω-口
电 阻 0.01-200.0Ω
2,数字电压表
(1)量 程 : 200mV单一量程
(2)误 差: 读数 ±0.2%±3字
(3)输入电阻 : >10MΩ
3,恒 流 源
(1)电流输出 0~10mA连续可调
(2)量 程 1mA, 10mA
(3)误 差 ±0.2%±3字,
4,手持式四探针测试头
(a)探 针 间 距:: 1mm
(b)探针机械游移率: ±1.0%
(c)探 针 材 料: 碳化钨,φ0.
(d)压力: zui大 2Kg
(2)导电类型判别:
可对电阻率为1000-.0.01欧姆/厘米的硅材料作导电类型测定,同时可以声,光报警方式表示被测材料属于”重掺”。