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北京农艺形态测量仪

产品简介

北京农艺形态测量仪本仪器广泛的用于作物的育种、栽培研究工作,能够测量作物生长期的茎粗、株高、穗位、单叶面积、总面积果实大小等,测量数值直接保存在SD卡中,并有专业软件形成作物农艺形状调查表。

产品型号:WH/ECA-NY01
更新时间:2024-11-03
厂商性质:生产厂家
访问量:761
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品牌其他品牌产地类别国产
应用领域环保,化工,生物产业,农业

农艺形态测量仪  作物农艺形状测定仪

型号:WH/ECA-NY01

北京农艺形态测量仪本仪器广泛的用于作物的育种、栽培研究工作,能够测量作物生长期的茎粗、株高、穗位、单叶面积、总面积果实大小等,测量数值直接保存在SD卡中,并有专业软件形成作物农艺形状调查表。
北京农艺形态测量仪主要技术参数:
1、 有卡测量:读ID样品卡后自动识别样品;
2、 无卡测量:26个英文字母及10个阿拉伯数字自由组合设定样品号;
3、 可以测量作物株高、株直径、穗位、穗长、叶片长、叶片宽、叶片面积等参数;
4、 大容量SD卡2G储存,多可储存100万组测量数据,生成TXT文档,并可以转化为Excl表格;
5、 测量结束后可自动储存测量的日期、时间和相对应的样品号;
6、 可以通过软件生成各种农艺测量报告表格;
7、测量范围:0-3000mm;精度:1mm;误差:1mm ;本仪器广泛的用于作物的育种、栽培研究工作,能够测量作物生长期的茎粗、株高、穗位、单叶面积、总面积果实大小等,测量数值直接保存在SD卡中,并有专业软件形成作物农艺形状调查表。
主要技术参数:
1、 有卡测量:读ID样品卡后自动识别样品;
2、 无卡测量:26个英文字母及10个阿拉伯数字自由组合设定样品号;
3、 可以测量作物株高、株直径、穗位、穗长、叶片长、叶片宽、叶片面积等参数;
4、 大容量SD卡2G储存,多可储存100万组测量数据,生成TXT文档,并可以转化为Excl表格;
5、 测量结束后可自动储存测量的日期、时间和相对应的样品号;
6、 可以通过软件生成各种农艺测量报告表格;
7、测量范围:0-3000mm;精度:1mm;误差:1mm ;本仪器广泛的用于作物的育种、栽培研究工作,能够测量作物生长期的茎粗、株高、穗位、单叶面积、总面积果实大小等,测量数值直接保存在SD卡中,并有专业软件形成作物农艺形状调查表。
主要技术参数:
1、 有卡测量:读ID样品卡后自动识别样品;
2、 无卡测量:26个英文字母及10个阿拉伯数字自由组合设定样品号;
3、 可以测量作物株高、株直径、穗位、穗长、叶片长、叶片宽、叶片面积等参数;
4、 大容量SD卡2G储存,多可储存100万组测量数据,生成TXT文档,并可以转化为Excl表格;
5、 测量结束后可自动储存测量的日期、时间和相对应的样品号;
6、 可以通过软件生成各种农艺测量报告表格;
7、测量范围:0-3000mm;精度:1mm;误差:1mm ;

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