超高阻双电四探针测试仪
本品为解决四探针法测试超高阻值材料方阻及电阻率，最大可以测试到1010Ω方阻值，是目前同行业中能测量到的最大方阻值，选购：本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用，通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重

产品型号：BXA58

更新时间：2024-11-03

厂商性质：生产厂家

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行业专用仪器仪表

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品牌	其他品牌	价格区间	面议
自动化度	手动	产地类别	国产
应用领域	环保,农业,能源	电阻率范围	102～2×1011-cmΩ

超高阻双电四探针测试仪

BXA58超高阻双电四探针测试仪

一、概述：

本品为解决四探针法测试超高阻值材料方阻及电阻率，最大可以测试到1010Ω方阻值，是目前同行业中能测量到的最大方阻值，选购：本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用，通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

二、广泛用于：

覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防放射导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试；硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻；半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料，EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等；

三、参数资料：

1.方块电阻范围：101～2×1010Ω/□

2.电阻率范围：102～2×1011-cmΩ

3.测试电流范围：1mA ---1pA

4.电流精度：±0.1%读数

5.电阻精度：108Ω以下≤5%；108Ω以上≤20%

6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率.

7.测试方式: 双电测量

8.工作电源:输入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W

9.整机不确定性误差:≤4%（标准样片结果）

10.选购功能: 1.pc软件；2.方形探头；3.直线形探头；4.测试平台

11.测试探头：探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针