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数字IC测试仪

产品简介

数字IC测试仪
循环测试
自动搜寻
自我诊断
过载保护
测量1800种设备
支持54/74系列TTL
支持4000和5000系列CMOS
测试管脚:28 pin

产品型号:DL06-GUT-6000B
更新时间:2024-11-05
厂商性质:生产厂家
访问量:755
详细介绍在线留言
品牌其他品牌产地类别国产
应用领域环保,农业,能源测试电压 2.5/3.0/3.3/5V DC

数字IC测试仪

产品特点:
循环测试
自动搜寻
自我诊断
过载保护
测量1800种设备
支持54/74系列TTL
支持4000和5000系列CMOS
测试管脚:28 pin
产品参数:


测试范围

54/74 系列 TTL

4000 及 4500 系列 CMOS

DRIVE

量测种类

约 1800 种

测试电压

2.5/3.0/3.3/5V DC

测试时间

高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC

使用电源

交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量

335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤


 

数字IC测试仪

产品特点:
循环测试
自动搜寻
自我诊断
过载保护
测量1800种设备
支持54/74系列TTL
支持4000和5000系列CMOS
测试管脚:28 pin
产品参数:


测试范围

54/74 系列 TTL

4000 及 4500 系列 CMOS

DRIVE

量测种类

约 1800 种

测试电压

2.5/3.0/3.3/5V DC

测试时间

高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC

使用电源

交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量

335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤


 




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